遷移金属酸化物薄膜の微細加工と微小試料・素子構造による物性研究

フォトリソグラフィー、電子線リソグラフィー、集束イオンビーム(FIB)加工法により遷移金属酸化物薄膜および酸化物単結晶基板の微細加工を行い、微小試料、積層素子構造の特徴を活かした物性研究を行っています。現在、研究を展開しているテーマには次のものがあります。

1. 極薄単結晶基板を用いた電界効果による物性制御

2. 強磁性絶縁体を使ったスピンフィルター素子

3. 偏極スピン注入による磁性制御